電子產(chǎn)品溫度沖擊試驗

溫度沖擊測試可針對電子產(chǎn)品的一種可靠性測試，一般電子產(chǎn)品做的多的是從高溫環(huán)境突然進入低溫環(huán)境的測試。電子產(chǎn)品溫度沖擊試驗的意義：對于電子產(chǎn)品來說可以剔除產(chǎn)品的早期故障，實驗本身是一個破壞性實驗。產(chǎn)品冷熱沖擊是檢驗它的性能，但是沖擊過程肯定會加速產(chǎn)品老化。溫度沖擊試驗常被稱作熱沖擊試驗或者溫度循環(huán)、高低溫冷熱沖擊試驗。溫度沖擊是指裝備周圍大氣溫度的急劇變化，溫度變化率大于10度/min，即為溫度沖擊。
試驗前準備
確定試驗程序，試件技術狀態(tài)，溫度量值，循環(huán)數(shù)，溫度穩(wěn)定，持續(xù)時間等
試驗前技術狀態(tài)確認
試驗前均應在標準大氣條件下對試件進行初始檢測并記錄，以取得某線數(shù)據(jù)，檢測內(nèi)容主要包括有：
1.外觀特別是應力區(qū)，如鑄件拐角處，不同材料的結(jié)合面，如元器件引線與可見的電子元器件的陶瓷界面檢查
2.性能和功能檢測
1、試驗na：規(guī)定轉(zhuǎn)換時間的快速溫度變化；空氣；
2、試驗nb：規(guī)定變化速率的溫度變化；空氣；
3、試驗nc：兩液槽法快速溫度變化；液體；
上面3種試驗，1、2以空氣作為介質(zhì)，第3種以液體（水或其它液體）作為介質(zhì)。1、2的轉(zhuǎn)換時間較長，3的轉(zhuǎn)換時間較短。