CGO-高低溫真空探針臺

cgo高低溫真空探針臺
核心特性：
·樣品臺尺寸靈活：適應2至6英寸不同規(guī)格的樣品。
·高真空環(huán)境：確保測試過程的純凈與精確。
·防輻射屏設計：優(yōu)化樣品溫度均勻性，提升測試準確性。
·寬溫度范圍：覆蓋77k至675k，滿足多樣化測試需求。
·多功能兼容性：支持iv/cv/rf等多種測試模式。
·外置探針臂：大移動行程，操作便捷。
·經(jīng)濟實用與升級潛力：高性價比，可無縫升級至更高配置。
特色應用：
·極低溫測試：通過高真空環(huán)境避免水汽凝結，確保測試過程的穩(wěn)定性。
·高溫無氧化測試：抽走氧氣，減少晶圓氧化，保證測試結果的準確性。
·溫度變換應對：針對熱脹冷縮現(xiàn)象，提供針座重新定位或自動化調整功能。
規(guī)格參數(shù)：
·腔體規(guī)格：多種型號可選，適應不同尺寸的樣品測試。
·真空度與溫度控制：高真空度與精準的溫度控制范圍，確保測試環(huán)境穩(wěn)定。
·光學系統(tǒng)：配備多種顯微鏡與光源，滿足精細觀察與測試需求。
·探針臂與漏電精度：高精度的探針臂與漏電控制，保障測試數(shù)據(jù)的精確性。
附加組件與附件：
·真空與冷源組件：確保測試環(huán)境的純凈與穩(wěn)定的溫度條件。
·可選附件：豐富的可選配件，為測試提供更多可能性與便利性。
cgo高低溫真空探針臺以其出色的性能、靈活的配置和廣泛的應用領域，成為科研與工業(yè)生產中不可或缺的測試設備。無論是微電子、半導體還是材料科學等領域，它都能提供穩(wěn)定、精準的測試環(huán)境，助力科研人員與工程師取得更卓越的成果。