便攜式IGBT測(cè)試儀加工-華科IGBT測(cè)試儀

如何執(zhí)行導(dǎo)通參數(shù)與漏電流的量測(cè)？
?測(cè)試條件中待輸入的數(shù)字，必須依照元件生產(chǎn)廠所提供的規(guī)格來(lái)輸入，而測(cè)量結(jié)果，亦必須在其所規(guī)定的限額內(nèi)，否則，便攜式igbt測(cè)試儀加工，便為不良品。
大功率i g b t模塊測(cè)試系統(tǒng)簡(jiǎn)介
我公司所設(shè)計(jì)生產(chǎn)的半導(dǎo)體元件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)具備下列測(cè)試能力：
☆可單機(jī)*操作，測(cè)試范圍達(dá)2000v及50a。
☆外接大電流擴(kuò)展裝置，檢測(cè)范圍可擴(kuò)展1600a。
參數(shù)名稱符號(hào)參數(shù)名稱符號(hào)
開(kāi)通延遲時(shí)間td(on)關(guān)斷延遲時(shí)間td(off)
上升時(shí)間tr下降時(shí)間tf
開(kāi)通時(shí)間ton關(guān)斷時(shí)間toff
開(kāi)通損耗eon關(guān)斷損耗eoff
柵*電荷qg
短路電流isc//
可測(cè)量的frd動(dòng)態(tài)參數(shù)
參數(shù)名稱符號(hào)參數(shù)名稱符號(hào)
反向恢復(fù)電流irm反向恢復(fù)電荷qrr
反向恢復(fù)時(shí)間trr反向恢復(fù)損耗erec
igbt測(cè)試裝置技術(shù)要求（1）設(shè)備功能igbt模塊檢測(cè)裝置是用于igbt的靜態(tài)參數(shù)測(cè)試。2測(cè)試對(duì)象igbt、frd、肖特基二*管等功率半導(dǎo)體模塊2。系統(tǒng)的測(cè)試原理符合相應(yīng)的，系統(tǒng)為*式單元，封閉式結(jié)構(gòu)，具有升級(jí)擴(kuò)展?jié)撃堋gbt模塊檢測(cè)裝置是用于igbt的靜態(tài)參數(shù)測(cè)試，便攜式igbt測(cè)試儀，在igbt的檢測(cè)中，便攜式igbt測(cè)試儀廠家，采用大電流脈沖對(duì)igbt進(jìn)行vce飽和壓降及續(xù)流二*管壓降的檢測(cè)。為提供穩(wěn)定的大電流脈沖，采用了支撐電容補(bǔ)償及步進(jìn)充電的方法，解決igbt進(jìn)行vce飽和壓降及續(xù)流二*管壓降的檢測(cè)問(wèn)題。
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