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三坐標(biāo)測頭
光學(xué)測頭雖然有一些接觸式測頭無法提供的優(yōu)勢，但并無法完全替代接觸式測頭，蔡司zeiss三坐標(biāo)，其原因在于光線的可觸及性不如接觸式測頭。測球的各個部位都可以去接觸被測物體來采點(diǎn)，但光的傳播是沿直線的，我們無法讓光“轉(zhuǎn)彎”，必然有一些特征讓光線力所不能及，比如徑深比很小的孔、或是需要l型測針的場合，接觸式測頭比光學(xué)測頭更方便。
沒有好的測頭，蔡司zeiss三坐標(biāo)代理，究竟怎么選擇還是取決于測量需求。在繁多的測頭種類面前，應(yīng)該不只是以預(yù)算為導(dǎo)向，也不一定要追求全能型的測頭，找到*合適的產(chǎn)品，才能既快又好地做好質(zhì)量控制。
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接觸式測頭與光學(xué)測頭
近年來流行著一些帶有誤導(dǎo)性的宣傳，導(dǎo)致部分用戶對光學(xué)測頭有過高的期待，例如“用光學(xué)測頭一掃，零件的所有尺寸都出來了”等等，這對光學(xué)測頭實際上存在很大的誤解。從目前的狀態(tài)來說，接觸式與光學(xué)測頭之間主要是相互補(bǔ)充的關(guān)系，蔡司zeiss三坐標(biāo)價格，而非競爭。三維光學(xué)測頭有不同的分類，比如點(diǎn)光源、線光源、面光源，不同的測頭其應(yīng)用場合有顯著區(qū)別。我們將光學(xué)測頭的應(yīng)用大致分成兩類：表面數(shù)字化和三維測量。
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三坐標(biāo)蔡司測量三坐標(biāo)精度三坐標(biāo)檢驗維修升級*搬遷
在傳統(tǒng)測量方法選擇上，人們主要依靠兩種測量手段完成對箱體類工件和復(fù)雜幾何形狀工件的測量，即：通過三坐標(biāo)測量機(jī)執(zhí)行箱體類工件的檢測；通過測量設(shè)備，例如齒輪檢測儀、凸輪檢測設(shè)備等完成具有復(fù)雜幾何形狀工件的測量。因此對于從事生產(chǎn)復(fù)雜幾何形狀工件的企業(yè)來說，完成上述產(chǎn)品的質(zhì)量控制企業(yè)不僅需要配置通用測量設(shè)備，例如三坐標(biāo)測量機(jī)，通用標(biāo)準(zhǔn)量具、量儀，蔡司zeiss三坐標(biāo)授權(quán)代理，同時還需要配置檢測設(shè)備，例如各種尺寸類型的齒輪檢測儀器，凸輪檢測儀器等。
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